光学自准直仪的工作原理

光学自准直仪基于两条基本光学原理：光的准直原理和平面镜对光束的反射原理。自准直仪将图像以平行光束（准直光）的形式投射到反射镜上，该反射镜将其光束反射回自准直仪，形成自准直图像。如果反射镜与光轴垂直，则光束将反射回自身。

光学自准直仪的光学系统有三种，分别为高斯系统、阿贝系统和综合系统。

高斯系统

光路中可包含光源、聚光镜、分光镜、分划板、准直镜、反射镜和目镜组。为了使目镜不被光源遮挡，高斯系统的自准直仪光路在其光轴上加有析光镜，也可采用立方棱镜。光路设计也可以是析光镜（立方棱镜）放在物镜组前，这样由于其分光，物镜就有两个共轭的焦平面。一个焦平面放置十字线分划板，并被光源照明，另一焦平面放置双刻线分划板。该光路能使自准直像与原分划板分开，避免盲区。

高斯系统的优点是：视场不被光源遮挡，分划板可以位于视场的正中央，测量范围比较大。缺点是高亮度损失比较大，每次通过析光镜都要损失大量亮度。

阿贝系统

阿贝系统是把一个焦平面一部分用于准直管，一部分用于目镜组。其光路包括直角棱镜、透镜、反射镜和分划板。阿贝系统的主要优点是光强度大，亮度损失小，但由于胶合棱镜，视场会被遮挡。

综合系统

综合系统则包含了高斯系统和阿贝系统的优点，具有视场无遮挡，亮度损失小的特性。该光路中包括透镜、聚光镜、反射镜和分划板。

应用

光学自准直仪主要用于测量角度和平行度，也可测量光学元件的部分参数。例如楔状物与平行板、棱镜的角度和凹凸球面的半径等。

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